紧凑型独立式ESD测试系统

型号：HCE-5000

品牌：HANWA

分类：静电ESD/CDM/TLP测试仪

简述：HANWA HCE-5000是Hanwa推出的一款便携、紧凑的独立式ESD测试设备。设备无需连接电脑即可完成HBM、MM和漏电流测量，节省空间并降低使用成本，特别适合实验室、研发机构和高校基础研究应用。

HANWA

相关产品

核心产品特点

●  独立式便携设计

· 紧凑轻便，节省空间，无需额外计算机即可独立完成测试。

●  直观触控操作界面

· 触摸屏控制，直接调整参数，简单易用，无需专门培训。

●  兼容多种ESD标准

· 完全符合ESDA/JEDEC JS-001(AEC)及JEITA国际标准。

●  实时漏电流与曲线追踪

· 支持测试前后数据对比，提供变化百分比及绝对值分析方法。

●  通用Zap单元

· 支持多种标准测试波形，可灵活应对不同测试需求。


应用领域

·  中小型半导体器件ESD快速评估与可靠性测试

·  大学实验室电子器件ESD失效模式研究与教学实验

·  材料漏电流性能与抗ESD特性评估

·  快速质量控制与批量ESD筛选测试

·  产品研发阶段的静电防护快速验证


典型测试应用案例

· 半导体企业：芯片ESD耐受性分级测试与批量筛选

· 高校/科研机构：先进材料静电击穿机制研究

· 材料研究实验室：新型静电防护材料验证

参数/功能

性能规格

放电电压范围（HBM/MM）

±10 V 至 ±4 kV（选配HBM 8 kV）步进5 V

充电电压精度

±1% ±10 V

放电次数

单次1~99次

放电间隔

0.1~9.9秒（步进0.1 s）

漏电流测量电压(Vf)

±40 V（步进0.1 V）

漏电流测量精度

±1% + 50 mV

最大漏电流

100 mA

漏电流测量方式

高精度：±1%±1/500 FS+10A nA 低精度：±2%±1/500 FS+100 nA

漏电电阻测量范围

10/100/1k/10k/100k/1MΩ

测量数据点

最多20点

外形尺寸（宽×深×高）

350×208×296 mm

重量

约10 kg

操作环境

温度：15-35℃ 湿度：10%-70%

电源需求

AC 100 V，2 A

接口

USB

文档下载：

E_HCE-5000.pdf